您的位置： 首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 測(cè)量?jī)x器 > 希瑪 > ?，?AR931+高精度分體式數(shù)顯涂層測(cè)厚儀

希瑪 AR931+高精度分體式數(shù)顯涂層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度
希瑪 AR931+高精度分體式數(shù)顯涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-04-27
訪問(wèn) 量：854

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品目錄Product center

測(cè)量?jī)x器
- 海思偉創(chuàng)
- Elcometer
- 菲力爾
- Rhopoint
- BINDER
- 易福門(mén)
- noiseken
- 航裕
- 菁華
- 浩儀
- 銥泰
- 勝利
- 固緯
- 安柏
- 凱元
- 美天旎
- 凱基
- Roche
- LabServ
- 賽多利斯
- 愛(ài)色麗
- EPK
- QNIX
- 上?，F(xiàn)代環(huán)境
- SCBK
- TQC SHEEN
- ETP
- 奧林巴斯
- FUTURE-TECH
- 德圖
- 福祿克
- 格力
- 賓得
- 雅馬拓
- 安東帕
- 梅特勒
- Atlas
- 林上
- 菲希爾
- 建大仁科
- 艾示科
- 慶聲
- 愛(ài)斯佩克
- 泰克瑪
- 島津
- 安捷倫
- 日立
- 賽默飛
- 畢克
- 耐馳
- 圖技
- 菊水
- 致茂
- 是德
- 萊特波特
- 安立
- 羅德
- 柯尼卡美能達(dá)
- 臺(tái)碩
- 密度計(jì)
- 測(cè)厚儀
- 光澤度
- 色差儀
- 液質(zhì)聯(lián)用儀
- X-Ray
- 正立
- 原子力
- 輪廓儀
- 膜厚儀
- 電鏡
- 光時(shí)域
- 傳感器
- 信號(hào)發(fā)生器
- 分流器
- 皮安計(jì)
- 夾具
- 電容計(jì)
- 網(wǎng)絡(luò)分析
- 電阻表
- 頻率計(jì)數(shù)器
- 綜合測(cè)試
- 校準(zhǔn)件
- 電橋
- 測(cè)量單元
- 頻譜
- 適配器
- 發(fā)生器
- 測(cè)試軟件
- 數(shù)據(jù)采集
- 風(fēng)速
- 溫度表
- 振動(dòng)計(jì)
- 聲學(xué)
- 多通道
- 粘度計(jì)
- 電纜
- 回路
- 頻閃
- 查線儀
- 校驗(yàn)
- 校準(zhǔn)
- 溫濕度
- 相序表
- 鉗形表
- 變送
- 電量表
- 參數(shù)
- 熱像
- 測(cè)溫
- 分析儀
- 空氣
- 粒子
- 氣溶膠
- 顆粒
- 煙霧生成器
- 風(fēng)量?jī)x
- 測(cè)振儀
- 電阻測(cè)試
- 記錄分析儀
- 數(shù)字采集器
查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章Related articles

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

?，?AR931+高精度分體式數(shù)顯涂層測(cè)厚儀

涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高。

渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量，此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

超聲波測(cè)厚法

國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴、測(cè)量精度也不高。

電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高，測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩。

光熱測(cè)厚法

基于*熱光學(xué)技術(shù)(ATO)和數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(DSP)，涂魔師實(shí)現(xiàn)du有的非接觸式涂層無(wú)損測(cè)厚技術(shù)。

該系統(tǒng)通過(guò)計(jì)算機(jī)控制光源以脈沖方式加熱待測(cè)涂層，其中內(nèi)置的高速紅外探測(cè)器從遠(yuǎn)處記錄涂層表面溫度分布并生成溫度衰減曲線。表面溫度的衰減時(shí)間取決于涂層厚度及其導(dǎo)熱性能。最后利用專(zhuān)門(mén)研發(fā)的算法分析表面動(dòng)態(tài)溫度曲線計(jì)算測(cè)量待測(cè)的涂層厚度。

用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米，這類(lèi)儀器又分探頭與主機(jī)一體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

?，?AR931+高精度分體式數(shù)顯涂層測(cè)厚儀

詳情1.jpg